Zarejestruj się bezpłatnie i zyskaj pełny dostęp do treści ogłoszenia.

Pomiary profili głębokościowych metodą spektrometrii mas jonów wtórnych

Id ogłoszenia 27050780
Dodano dnia 06.05.2024
Województwo Dolnośląskie
Miasto Wrocław
Możliwość złożenia oferty do 14.05.2024
Dla kodu CPV 71355000-1
Źródło BZP
Branże:
  • laboratoria - osprzęt usługi
    • laboratoria - usługi
    • badania naukowe