Zarejestruj się bezpłatnie i zyskaj pełny dostęp do treści ogłoszenia.
Pomiary profili głębokościowych metodą spektrometrii mas jonów wtórnych
Id ogłoszenia |
27050780 |
Dodano dnia |
06.05.2024 |
Województwo |
Dolnośląskie
|
Miasto |
Wrocław
|
Możliwość złożenia oferty do |
14.05.2024 |
Dla kodu CPV |
71355000-1 |
Źródło |
BZP |
Branże: |
- laboratoria - osprzęt usługi
- laboratoria - usługi
- badania naukowe
|
INNE OGŁOSZENIA W TEJ KATEGORII